Alle opdrachtgevers
Open
Onderhandelingsprocedure zonder voorafgaande oproep tot mededinging

Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope

Publicatie-ID: 426722

Details

Publicatiedatum
29 mei 2026
Geschatte waarde
€ 610.000,00
CPV-codes
38511000-0

Omschrijving

Voor deze onderzoeksdoelen is gedetailleerde analyse van microstructuren en interfaces essentieel. Een FIB-SEM (Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope) is noodzakelijk om: • 3D-reconstructies van elektrodematerialen te maken en porositeit en degradatiemechanismen te analyseren.

Volledige omschrijving & AI-analyse

Registreer gratis om de volledige omschrijving, AI-analyse, match score en prioriteitsbeoordeling te bekijken.

Bekijk op TenderNed

🔔 Mis geen tenders meer

Ontvang automatisch alerts wanneer er nieuwe aanbestedingen worden gepubliceerd die bij jouw expertise passen.

Pro-functies

AI-analyse & samenvatting
Match score berekening
Keyword matching
Prioriteitsbeoordeling
Volledig tenderrapport