Open
Onderhandelingsprocedure zonder voorafgaande oproep tot mededinging
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope
Publicatie-ID: 415266
Details
Omschrijving
Voor deze onderzoeksdoelen is gedetailleerde analyse van microstructuren en interfaces essentieel. Een FIB-SEM (Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope) is noodzakelijk om: • 3D-reconstructies van elektrodematerialen te maken en porositeit en degradatiemechanismen te analyseren.